通过本课程学习，学生能获得超大规模集成电路的测试技术和可测试性设计方法，掌握测试的基本知识，熟悉故障建模、仿真、测试生成、测试经济学；掌握可测试性设计的基础知识，特别是扫描设计和内部自检测试；特别抢到与数字系统相关的制造后测试问题和测试解决方案培养，面向现代化IC设计的测试知识和技能，最终通过应用新学习的技术来设计完全可测试电路。为日后从事电路级、芯片级和系统级的设计、制造、测试和应用打下良好的基础。
第一章 绪论
1.4 集成电路制造的基本操作
1.1 集成电路的重要意义
1.2 集成电路发展现状
1.3 集成电路测试的重要性
集成电路基础-单元作业
集成电路基础-单元测验
第二章 可测试性度量基础
2.1 SCOAP组合可控性计算规则
2.2 SCOAP组合可控性计算例子
2.3 SCOAP时序可控性计算规则
2.4 SCOAP时序可控性计算例子
SCOAP计算-单元作业
SCOAP组合控计算-单元测验
第三章 自动测试生成基础
3.1 布尔差分法
3.2 自动测试生成基础
3.3 D算法原理1
3.4 D算法原理2
3.5 PODEM算法
3.6 FAN算法
自动测试生成算法-单元测验
自动测试生成算法-单元作业
第四章 仿真模型与逻辑仿真
4.1 仿真模型
4.2 编译代码逻辑仿真
4.3 事件驱动逻辑仿真
练习1
仿真模型与逻辑仿真-单元测验
门级评估计算-单元作业
第五章 故障模拟
5.1 故障模拟方法概述
5.2 串行故障模拟
5.3 并行故障模拟
5.4 故障检测
练习-故障插入
练习3
PPSFP计算-单元作业
故障模拟-单元测验
第六章 实验设计与验证
6.1 实例1 分频计数模块测试与验证
6.2 实例2 交通灯控制模块测试与验证
6.3 VHDL INTRODUCTION
6.4 VHDL TESTbench编写
数字电路的测试与验证实例设计-单元作业
课程资源
Verilog集成电路设计与测试英文视频
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